Წინა ფოკუსირების 3D სკანირების გალვანომეტრული სკანერი ფართოდ გამოიყენება ზედმიხედვით დამუშავების სფეროებში, როგორიცაა ლაზერული ზუსტი მარკირება, ლაზერული რელიეფი, ლაზერული ღრმა ნაჭრა, ლაზერული კვეთა, ლაზერული შედუღება და ა.შ. დიდი ფორმატის, მრავალდონიანი, დახრილი, ცილინდრული, სფერული და რთული 3D მორფოლოგიური ზედაპირებისთვის.
Პროდუქტის პროდუქტის მერიტები
● ინტეგრაცია
Მაღალი ინტეგრაციის მქონე, დიდი ლაქის ორგანზომილებიანი სკანირების გალვანომეტრული სკანერით, სწრაფი დინამიური ფოკუსირების მოწყობილობით, წინა ფოკუსირების ოპტიკური ლინზების ჯგუფით და ა.შ., სტრუქტურა კომპაქტური და სტაბილურია, ოპტიკური გზა ზუსტია, ჰერმეტიკულობა კარგია, გარეგნობა ახალგაზრდულია და მონტაჟი მარტივი.
● მაღალი стабილობა
Დამუშავებულია საცხოვრებელი ეკრანირების სტრუქტურა და მრავალდონიანი ანტიშეუთი დამცავი წრე, რომელსაც აქვს ძლიერი ანთიშეუთი უნარი.
● მაღალი სიზუსტე
Გამოყენებულია თანამედროვე ჩაკეტილი ციკლის PID ალგორითმი, 16-ბიტიანი კონტროლის გაფართოება, მაღალი კონტროლის სიზუსტე და ზუსტი დამუშავების ეფექტი.
● მაღალი წრფივობა
Გამოყენებულია უნიკალური ლინეარული კომპენსაციის ტექნოლოგია, რომელსაც აქვს კარგი ლინეარულობა მთელ დიდ ფორმატის მარკირების დიაპაზონში.
● დაბალტემპერატურიანი გასუფთავება
Იყენებს მაღალი სიზუსტის ფოტოელექტრულ სენსორულ ტექნოლოგიას და თანამედროვე ტემპერატურული წანაცვლების ავტომატურ კომპენსაციის ტექნოლოგიას, რაც უზრუნველყოფს მინიმალურ ნულოვან ტემპერატურულ წანაცვლებას, გაძლიერების ტემპერატურულ წანაცვლებას და გრძელვადიან ტემპერატურულ წანაცვლებას.
Პროდუქტის პარამეტრები | |
Შემომავალი ლაზერული ლაქა |
7.5-9მმ |
Ღერძის გამოჭრილობა |
40 mm |
Ტიპიური სკანირების კუთხე |
±0.35 რად |
Არაწრფივობა |
<0.5 მრად |
Გარკვეულობის შეცდომა |
0.85 ms |
1 % სრული шкаლის [ms] |
1.6ms |
Განმეორებადობა (RMS) |
<8 urad |
Გაძლიერების წონასწორობა |
<100 ppm/K |
Ნულოვანი წონასწორობა |
<50 urad/K |
Გრძელვადიანი წანაცვლება 8 საათის განმავლობაში (30 წუთიანი გახურების შემდეგ) |
<0.3 mrad |
Ნიშნული სიჩქარე |
<2000მმ/წმ |
Პოზიციონირების სიჩქარე |
<6000მმ/წმ |
Ძალის მოთხოვნები |
±24 VDC |
Შემავალი სიგნალები |
Მაქს. 14.6A |
Ციფრული |
XY2-100 |
Ანალოგი |
±5V |
Მუშაობის ტემპერატურა |
25±10℃ |
Გაზომვა სიგრძე-სიგანე-სიმაღლე (მმ) |
564x188x168 |
|
|
6-ე სართული, B ბლოკი, ვანჰე ტექნოლოგიას შემოწმების შენობა, №7 ჰუიტონგ გზა, გუანგმინგის რაიონი, შენძენი, გუანგდონგის პროვინცია
Copyright © 2025 Shenzhen Zbtk Technology Co., Ltd. Პრივატულობის პოლიტიკა
EN
